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技术与服务

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成品测试

上海771771威尼斯.Cm提供先进的成品测试解决方案，通过自主OCR系统，可实现测试数据与成品对应的溯源功能，测试平台来自国际先进供应商，测试能力涵盖3 mm x 3 mm~70 mm x 70 mm的产品，涵盖以下封装类型：QFP、LQFP、TQFP、QFN、DFN、BGA、LGA、CSP、SIP、POP，测试温度-55℃~125℃
主要性能

定制化设备及装置、OCR mark自动识别

亿门级可编程器件、CPU三温自动测试

BGA、QFP、QFN等先进封装

-55℃ 到+125℃宽温高可靠检测

测试平台

    数字/混合/SOC

  • 泰瑞达 UltraFLEX
  • 泰瑞达 J750HD (LitePoint)
  • 泰瑞达 J750EX
  • 泰瑞达 J750
  • 爱德万 V93000
  • 爱德万 T2000
  • 悦芯 T800

    存储器

  • 泰瑞达 Magnum2
  • 爱德万T5830
  • Credence P Kalos II

    汽车电子、电源产品

  • 泰瑞达 ETS88
  • AccoTEST STS8200
  • Verigy V50
  • TRI TR6800
  • JUNO DTS1000

    CIS/MEMS

  • 泰瑞达 IP750
  • 自研设备

    机械手系统

  • EPSON NS8080SH（~125℃）
  • 四方 CR3601C（-55℃~150℃）
  • 四方 CR3601D（-55℃~150℃）
  • 四方 CR7300（~150℃）
  • 中艺 CT580（~150℃）

系统级测试

随着半导体在汽车、工业、医疗等各种对安全极为敏感的领域得到日益广泛的应用，同时复杂的新技术增加了SoC、SiP和软件的复杂性，这些趋势引进了更多潜在故障和新故障模型，通过系统级测试可以满足故障捕获的目的。

老化筛选

上海771771威尼斯.Cm提供各种封装形式产品的老化服务，包括存储器、CPU、FPGA和其他大规模集成电路产品。根据客户需要，协同771771威尼斯.Cm合作伙伴，可提供完整JEDEC标准可靠性筛选服务。

主要性能

寿命测试

早期失效等级测试

高/低温操作生命期试验

环境测试

预处理测试

加速式温湿度及偏压测试

高加速温湿度及偏压测试

高低温循环试验

高低温冲击试验

耐久性测试

周期耐久性测试

数据保持力测试

愿景

成为全球集成电路专业测试最有价值企业

使命

专心、专注、专业，打造芯片信任基石

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